[发明专利]一种基于比吸光度的纳米流体的制备方法有效

专利信息
申请号: 201310053959.7 申请日: 2013-02-20
公开(公告)号: CN103191589A 公开(公告)日: 2013-07-10
发明(设计)人: 杨柳;杜垲 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: B01D21/00 分类号: B01D21/00;G01N21/31;G01N21/33;B82Y35/00
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 杨晓玲
地址: 210096*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于比吸光度的纳米流体的制备方法,步骤10)测定初始纳米流体的吸光度:首先将纳米颗粒与基液混合,搅拌均匀,制备出质量分数为K·M的初始纳米流体,然后测量初始纳米流体的吸光度;步骤20)分离静置后沉降的纳米颗粒:将初始纳米流体静置设定时间后,然后将上层未沉降的纳米流体分离出来;步骤30)测定分离的纳米流体吸光度:利用紫外可见分光光度计,测量上层未沉降的纳米流体的吸光度和比吸光度;步骤40)制备质量分数为M的纳米流体:向上层未沉降的纳米流体中,添加基液,制备出质量分数为M的纳米流体。该制备方法可以保证获得所需的纳米颗粒质量分数,并且提高纳米流体的分散性。
搜索关键词: 一种 基于 光度 纳米 流体 制备 方法
【主权项】:
一种基于比吸光度的纳米流体的制备方法,其特征在于,该制备方法包括以下步骤:步骤10)测定初始纳米流体的吸光度:首先将纳米颗粒与基液混合,搅拌均匀,制备出质量分数为K·M的初始纳米流体,其中,K>1,M为最终获取的纳米流体的质量分数,然后利用紫外可见分光光度计,测量初始纳米流体的吸光度Aini;步骤20)分离静置后沉降的纳米颗粒:将步骤10)制备的初始纳米流体静置设定时间后,该初始纳米流体分为上层未沉降的纳米流体和下层沉降的纳米颗粒,然后利用提取设备将上层未沉降的纳米流体分离出来;步骤30)测定分离的纳米流体吸光度:利用紫外可见分光光度计,测量步骤20)分离出来的上层未沉降的纳米流体的吸光度Aaf,随后利用式(1)获得该上层未沉降的纳米流体的比吸光度I:I=Aaf/Aini    式(1);步骤40)制备质量分数为M的纳米流体:向步骤20)分离出来的上层未沉降的纳米流体中,添加基液,对该纳米流体进行稀释,稀释比例为:分离出来的上层未沉降的纳米流体质量∶添加的基液质量=1∶(K·I‑1),制备出质量分数为M的纳米流体。
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