[发明专利]用于测试电子元件的分选系统有效
| 申请号： | 201310046646.9 | 申请日： | 2013-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN103286076A | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 郑志华;谢泓龙;张智杰;张祖轁 | 申请（专利权）人： | 先进科技新加坡有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/00 | 分类号： | B07C5/00 |
| 代理公司： | 北京申翔知识产权代理有限公司 11214 | 代理人： | 周春发 |
| 地址： | 新加坡2*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于测试电子元件的分选系统，该分选系统包含有：旋转转盘；拾取头，其被装配在该旋转转盘上，每个拾取头被配置来夹持由供应源所提供的各个电子元件；载体系统，其相邻于旋转转盘定位，该载体系统被配置来运载多个电子元件；以及测试平台，其被配置来接收载体系统，该测试平台被操作来同时测试已经设置在载体系统上的多个电子元件；其中，该拾取头或其他传输机构可被操作来在测试平台测试电子元件以前传送电子元件至该载体系统上，以及在测试平台测试电子元件之后从载体系统处移除电子元件。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 电子元件 分选 系统 | ||
【主权项】：
一种用于测试电子元件的分选系统，该分选系统包含有：旋转转盘；拾取头，其被装配在该旋转转盘上，每个拾取头被配置来夹持由供应源所提供的各个电子元件；载体系统，其相邻于旋转转盘定位，该载体系统被配置来运载多个电子元件；以及测试平台，其被配置来接收载体系统，该测试平台被操作来同时测试已经设置在载体系统上的多个电子元件；其中，该拾取头被操作来在测试平台测试电子元件以前传送电子元件至该载体系统上，以及在测试平台测试电子元件之后从载体系统处移除电子元件。
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