[发明专利]一种校正电磁勘探中地形影响的比值方法有效
申请号: | 201310039614.6 | 申请日: | 2013-01-31 |
公开(公告)号: | CN103064124A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 闫述 | 申请(专利权)人: | 江苏大学 |
主分类号: | G01V3/38 | 分类号: | G01V3/38 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人: | 卢亚丽 |
地址: | 212013 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种校正电磁勘探中地形影响的比值方法,包括以下步骤:获得无地形影响的表层电阻率值,作为地形校正的标准电阻率;绘制沿测线的地形剖面图分别与频域电磁法的频点剖面图和时域电磁法的时间道剖面图进行对比,根据地形对频域、时域电磁场视电阻率的影响规律,判断实测数据所受到的地形影响;从频域电磁法的最高频点、时域电磁法的最早时间道开始观测,以便获得最接近表层的地形响应,直到频域电磁法观测到不再有地形影响的低频频点、时域电磁法观测到不再有地形影响的晚时间道,获得无地形影响的观测数据;由比值公式进行地形校正ρcorrectd(i,j)=ρmeasured(i,j)[ρstandard(i)/ρmeasured(i,1)]C(i,j)。本发明校正地形影响时校正效果好,可行性高,可广泛应用于电磁勘探中的校正地形影响。 | ||
搜索关键词: | 一种 校正 电磁 勘探 地形 影响 比值 方法 | ||
【主权项】:
一种校正电磁勘探中地形影响的比值方法,其特征在于包括以下步骤:步骤一,在各个测点通过小极矩直流电阻率法或岩土采样后实验室测试等实测方法获得无地形影响的表层电阻率值,作为地形校正的标准电阻率ρstandard(i),当表层较厚,地表电阻率相差不大时,也可利用测区内的电测井资料作为各测点地形校正的标准电阻率ρstandard(i);步骤二,绘制沿测线的地形剖面图与视电阻率剖面图进行对比,根据地形对频域或者时域电磁法视电阻率的影响规律,判断实测数据所受到的地形影响;步骤三,从频域电磁法的最高频点、时域电磁法的最早时间道开始观测,获得最接近表层的地形响应;然后向低频端或者晚时段观测,当达到预定探测深度且已经出现了不再有地形影响的低频频点、或晚时时间道时结束观测,当达到预定探测深度但仍有地形影响则继续观测直到获得无地形影响的观测数据;步骤四,根据以下比值公式进行地形校正 ρ correctd ( i , j ) = ρ measured ( i , j ) ρ s tan dard ( i ) ρ measured ( i , 1 ) C ( i , j ) - - - ( 1 ) 公式(1)中,i为测线的测点序号,从左至右编号1~M;j为频点或时间道序号,从高频向低频、或者从早期向晚期编号1~N;ρcorrectd(i,j)为校正后的视电阻率;ρmeasured(i,j)为实测视电阻率;ρstandard(i)为各测点的标准视电阻率;ρmeasure(i,1)为各测点最高频点或最早时间道视电阻率;C(i,j)为随频率或时间变化的校正系数。
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