[发明专利]OCA光学胶对ITO膜腐蚀性的测试方法无效
申请号: | 201310015210.3 | 申请日: | 2013-01-16 |
公开(公告)号: | CN103091373A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 张新玲;张滨;唐毅晟;王连荣;史小锋 | 申请(专利权)人: | 烟台正海科技有限公司 |
主分类号: | G01N27/04 | 分类号: | G01N27/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 264006 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及OCA光学胶对ITO膜的腐蚀性测试方法,属于触控面板技术研究领域,尤指OCA光学胶对覆金属膜材料中的ITO腐蚀性的测试方法探究。本发明是将金属层选择性蚀刻掉后,不腐蚀下层的ITO,同时留下两边框的金属层,再在ITO上贴合OCA光学胶,通过测试两金属之间的电阻随环境的变化,从而确定随环境变化OCA光学胶对覆金属ITO膜材料中的ITO的腐蚀。 | ||
搜索关键词: | oca 光学 ito 腐蚀性 测试 方法 | ||
【主权项】:
OCA光学胶对ITO膜的腐蚀性测试方法,其特征包括如下步骤:步骤一:取大小适中的长方形覆金属ITO膜材料,用两条胶带平行粘贴到金属膜两个长边;步骤二:选择合适的金属选择性蚀刻液,将样片投入金属选择性蚀刻液中,将未用胶带保护的金属层选择性蚀刻掉,留下ITO层;步骤三:剥离胶带,露出两边覆金属ITO膜;步骤四:将欲测试的OCA裁成条状,平行于金属条且居中粘贴到ITO层上,两边要露出金属层,便于测试;步骤五:用万用表测试两金属条间的电阻;步骤六:将样片进行不同环境放置后再测试两金属条间电阻;步骤七:计算不同环境放置前后的电阻比。
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