[发明专利]X射线检查装置有效

专利信息
申请号: 201280075761.2 申请日: 2012-09-12
公开(公告)号: CN104620098B 公开(公告)日: 2019-12-13
发明(设计)人: 池田伦秋;山田和教 申请(专利权)人: 世高株式会社
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 孙蕾
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供能够抑制来自X射线发生源的热所致的影响,将易于受到热的影响的电路构成部配置于与X射线发热源相同的收纳空间的X射线检查装置。在箱体(10)中,设置有上部收纳空间(11),在其内部设置有收纳于冷却容器(30)的X射线发生源(32)。冷却溶媒通过泵(36)的压力在冷却容器(30)与散热器33之间循环,抑制冷却容器(30)的温度上升。在上部收纳空间(11)中设置有冷却容器(30),所以上部收纳空间(11)自身成为冷却空间,温度不易上升。因此,能够在上部收纳空间(11)中,配置易于受到热的影响的电路构成部件、发热性的电路构成部件。
搜索关键词: 射线 检查 装置
【主权项】:
1.一种X射线检查装置,设置了工件通过部、夹着所述工件通过部在一方侧所设置的X射线发生源、以及在另一方侧所设置而探测X射线的传感器,其特征在于:/n设置有收纳所述X射线发生源的冷却容器、散热器、将所述冷却容器的内部和所述散热器连结的管路、以及经由所述管路使冷却介质在所述冷却容器的内部与所述散热器之间循环的泵,/n在作为箱体的内部空间的上部收纳空间中设置有所述冷却容器,所述上部收纳空间与收纳所述传感器的、位于该上部收纳空间的下方的空间连通,所述散热器设置于所述箱体的外部,构成电气电路的电路构成部件与所述冷却容器一起配置于所述上部收纳空间,/n所述冷却介质通过在收纳所述X射线发生源的所述冷却容器中循环,冷却所述X射线发生源,同时冷却所述冷却容器自身,/n通过供给到所述冷却容器的冷却介质,抑制收纳了所述X射线发生源的所述冷却容器的温度上升,并且所述冷却容器作为抑制所述上部收纳空间的温度上升且抑制所述电路构成部件的温度上升的冷却装置而发挥功能。/n
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