[发明专利]具有相位控制的高效能三线圈感应耦合等离子体源无效
申请号: | 201280053078.9 | 申请日: | 2012-10-23 |
公开(公告)号: | CN103907403A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | S·巴纳;W·比沙拉;R·贾尔;V·托多罗;D·卢博米尔斯基;K·坦蒂翁 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H05H1/46 | 分类号: | H05H1/46;H01F38/14;H01L21/3065 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 黄嵩泉 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种等离子体处理设备可包括:处理腔室;第一RF线圈、第二RF线圈及第三RF线圈;至少一个铁氧体遮罩(ferrite shield)。该处理腔室具有内部处理容积;该第一RF线圈、该第二RF线圈及该第三RF线圈接近处理腔室设置以将RF能量耦合至处理容积中,其中第二RF线圈相对于第一RF线圈同轴地设置,且其中第三RF线圈相对于第一RF线圈及第二RF线圈同轴地设置;该至少一个铁氧体遮罩接近第一RF线圈、第二RF线圈或第三RF线圈中的至少一个设置,其中铁氧体遮罩经配置以局部导引通过RF电流产生的磁场,该RF电流经由第一RF线圈、第二RF线圈或第三RF线圈流向处理腔室,其中等离子体处理设备经配置以控制流经第一RF线圈、第二RF线圈或第三RF线圈中的每一个的每一RF电流的相位。 | ||
搜索关键词: | 具有 相位 控制 高效能 线圈 感应 耦合 等离子体 | ||
【主权项】:
一种等离子体处理设备,所述等离子体处理设备包含:处理腔室,所述处理腔室具有内部处理容积;第一RF线圈,所述第一RF线圈接近所述处理腔室设置,以将RF能量耦合至所述处理容积中;第二RF线圈,所述第二RF线圈接近所述处理腔室设置,以将RF能量耦合至所述处理容积中,所述第二RF线圈相对于所述第一RF线圈同轴地设置;第三RF线圈,所述第三RF线圈接近所述处理腔室设置,以将RF能量耦合至所述处理容积中,所述第三RF线圈相对于所述第一RF线圈及所述第二RF线圈同轴地设置;及至少一个铁氧体遮罩,所述至少一个铁氧体遮罩接近所述第一RF线圈、所述第二RF线圈或所述第三RF线圈中的至少一个设置,其中所述铁氧体遮罩经配置以局部围束通过RF电流所产生的磁场,所述RF电流经由所述第一RF线圈、所述第二RF线圈或所述第三RF线圈流向所述处理腔室,其中所述等离子体处理设备经配置以使得当RF电流流经这些RF线圈中的每一RF线圈时,所述RF电流经由所述第一RF线圈、所述第二RF线圈或所述第三RF线圈中的至少一个相对于所述第一RF线圈、所述第二RF线圈或所述第三RF线圈中的至少另一个为异相(out‑of‑phase)流动,或者所述RF电流的相位可经选择性地控制以在所述第一RF线圈、所述第二RF线圈或所述第三RF线圈中的至少一个中相对于所述第一RF线圈、所述第二RF线圈或所述第三RF线圈中的至少另一个为同相(in‑phase)或异相。
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