[发明专利]带采样功能的传感器设备以及使用了该传感器设备的传感器数据处理系统有效
| 申请号： | 201280038104.0 | 申请日： | 2012-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN103733030A | 公开（公告）日： | 2014-04-16 |
| 发明（设计）人： | 山下昌哉;小林士朗;小泉修;赤木优子 | 申请（专利权）人： | 旭化成微电子株式会社 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 能够任意地设定、保持传感器设备之间的测量数比并在维持该测量数比的状态下自主地进行测量。包括：计数器(511)，其对计数命令进行计数，该计数命令用于在多个传感器设备之间维持测量数比来进行测量；测量数比保持部(512)，其将测量数比设定为期望的测量数比，以多个传感器设备各自对应的方式保持测量数比的设定值；采样定时生成部(513)，其被输入计数器(511)的计数值以及由测量数比保持部(512)保持的测量数比的设定值，在计数值与设定值一致之后生成采样定时信号；以及采样部(515)，其基于采样定时生成部(513)的采样定时信号对由检测部(514)检测出的检测信号进行采样。 | ||
| 搜索关键词： | 采样 功能 传感器 设备 以及 使用 数据处理系统 | ||
【主权项】：
一种带采样功能的传感器设备，其特征在于，具备：计数器，其对计数命令进行计数，该计数命令用于在多个传感器设备之间维持测量数比来进行测量；测量数比保持单元，其保持期望的测量数比的设定值；采样定时生成单元，其根据上述计数器的计数值和由上述测量数比保持单元保持的上述测量数比的设定值，基于上述计数值与上述设定值的比较结果来生成采样定时信号；以及采样部，其基于上述采样定时生成单元的采样定时信号开始对由检测部检测出的各种信息的检测信号进行采样。
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