[实用新型]基于抛物面反射镜的光洁度测量仪有效

专利信息
申请号: 201220738199.4 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN203025087U 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 周学斌;魏东;冯长波;王思平;毛琨 申请(专利权)人: 天威(成都)太阳能热发电开发有限公司
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55;G01N21/94
代理公司: 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 代理人: 李崧岩
地址: 610000 四川省成都市双流县*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了一种基于抛物面反射镜的光洁度测量仪,解决了现有技术中定时、定期清洗抛物面反射镜,并没有专业的用以检测抛物面反射镜的设备对抛物面反射镜镜面情况进行及时、有效地检测的缺陷。该光洁度测量仪包括用以安装抛物面反射镜并带动其跟踪太阳光的转动机构,跟随转动机构运动并用以记录抛物面反射镜反射的辐射强度与太阳光辐射强度的检测机构,以及用以处理、控制转动机构与检测机构的控制系统;其中,检测机构包括两个水平排列的辐射仪,且二者的辐射接收面相反。本实用新型填补了现有技术中没有专业的槽式抛物面反射镜光洁度测量设备的空白,具有非常高的实用性和创造性。因此,适合推广运用。
搜索关键词: 基于 抛物面 反射 光洁度 测量仪
【主权项】:
基于抛物面反射镜的光洁度测量仪,其特征在于:该光洁度测量仪包括用以安装抛物面反射镜并带动其跟踪太阳光的转动机构,跟随转动机构运动并用以记录抛物面反射镜反射的辐射强度与太阳光辐射强度的检测机构,以及用以处理、控制转动机构与检测机构的控制系统。
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