[实用新型]阵列基板检测装置有效
| 申请号： | 201220375637.5 | 申请日： | 2012-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN202677017U | 公开（公告）日： | 2013-01-16 |
| 发明（设计）人： | 阎长江;龙君;李田生;徐少颖;谢振宇 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100176 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种阵列基板检测装置。涉及液晶薄膜晶体管的检测装置。解决了阵列基板检测装置可应用的场景的灵活性较低的问题。具体可以包括：探针，探针中用于检测阵列基板的尖端在第一温度下的横截面积与在第二温度下的横截面积不同，除尖端的探针的另一端与连接设备相连接，并通过连接设备固定在装置上。可应用于检测阵列基板。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种阵列基板检测装置，其特征在于，包括：探针，所述探针中用于检测阵列基板的尖端在第一温度下的横截面积与在第二温度下的横截面积不同，除所述尖端的所述探针的另一端与连接设备相连接，并通过所述连接设备固定在所述装置上。
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