[实用新型]集成电路综合测试装置有效
| 申请号： | 201220203546.3 | 申请日： | 2012-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN202693755U | 公开（公告）日： | 2013-01-23 |
| 发明（设计）人： | 赵苍荣;郑淼淼 | 申请（专利权）人： | 安徽理工大学 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 232001 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路综合测试装置，包括单片机电路、液晶显示电路、语音电路、数字集成电路参数测试电路、集成运放参数测试电路、信号源电路、稳压电源电路、键盘电路。本实用新型可以测试集成数字芯片的逻辑功能、确定其功能的正确性、逻辑符号、表达式或状态转换图；也可以测试集成运算放大器的输入失调电压、输入失调电流、开环增益、交流共模抑制比等参数。具有操作简单、结果直观测试效率高、工作可靠、成本低、体积小、携带方便等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 综合测试 装置 | ||
【主权项】：
一种集成电路综合测试装置，其特征在于：包括有单片机电路、液晶电路、语音电路、数字集成电路参数测试电路、集成运放参数测试电路、信号源电路、稳压电源电路、键盘电路；单片机电路的输入端分别与数字集成电路参数测试电路、集成运放参数测试电路、键盘电路相连，单片机电路的输出端分别与语音电路、液晶电路相连；单片机电路、液晶电路、语音电路、数字集成电路参数测试电路、集成运放参数测试电路、信号源电路、键盘电路均与稳压电源电路连接，集成运放参数测试电路还与信号源电路的信号输出端连接。
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