[实用新型]用于GIS缺陷模拟的平面与平面电极间隙有效
| 申请号： | 201220117311.2 | 申请日： | 2012-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN202502206U | 公开（公告）日： | 2012-10-24 |
| 发明（设计）人： | 高凯;倪浩;刘兆林 | 申请（专利权）人： | 上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 宣慧兰 |
| 地址： | 200122 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于GIS缺陷模拟的平面与平面电极间隙，包括第一平面电极、第二平面电极和有机玻璃筒，所述的第一平面电极、第二平面电极均设置在有机玻璃筒内，所述的第一平面电极与第二平面电极间设有间隙，所述的第二平面电极接地。与现有技术相比，本实用新型具有电场均匀、可模拟接触不良及浮电位体缺陷等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 gis 缺陷 模拟 平面 电极 间隙 | ||
【主权项】：
一种用于GIS缺陷模拟的平面与平面电极间隙，其特征在于，包括第一平面电极、第二平面电极和有机玻璃筒，所述的第一平面电极、第二平面电极均设置在有机玻璃筒内，所述的第一平面电极与第二平面电极间设有间隙，所述的第二平面电极接地。
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