[发明专利]一种单粒子辐射效应检测方法有效

专利信息
申请号: 201210593077.5 申请日: 2012-12-31
公开(公告)号: CN103033524A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 谢朝辉;刘海南;周玉梅;黑勇;王德坤;赵明琦 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种单粒子辐射效应检测方法,应用于包括多个相同测试样品的单粒子辐射效应检测系统,该方法包括:从该多个相同的待测的测试样品中,将一个所述测试样品确定为主测试样品,将该多个相同的测试样品中除所述主测试样品外所有测试样品均确定为辅助测试样品;控制该主测试样品接受辐射的辐射过程;同时向该主测试样品和辅助测试样品发送测试激励;同时获取该主测试样品和该辅助测试样品对应端口的测试响应数据;依据该辅助测试样品对应端口的测试响应数据,确定出参考响应数据,并与该主测试样品产生的所述对应端口的所述测试响应数据进行比较,得到该测试样品出现的单粒子辐射效应,大大提高了检测方法的通用性。
搜索关键词: 一种 粒子 辐射 效应 检测 方法
【主权项】:
一种单粒子辐射效应检测方法,其特征在于,应用于包括多个相同测试样品的单粒子辐射效应检测系统,所述方法包括:从所述多个相同的待测的测试样品中,将一测试样品确定为主测试样品,将除所述主测试样品外所有测试样品均确定为辅助测试样品;同时向所述主测试样品和所述辅助测试样品发送测试激励;控制所述主测试样品接受辐射的辐射过程;同时获取所述主测试样品和所述辅助测试样品对应端口的测试响应数据;依据所述辅助测试样品对应端口的测试响应数据,确定出参考响应数据;比较所述主测试样品产生的所述测试响应数据,以及所述参考响应数据,得到所述测试样品出现的单粒子辐射效应。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210593077.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top