[发明专利]基于原位X射线断层照相的脆性材料力学损伤的测量方法有效

专利信息
申请号: 201210578792.1 申请日: 2012-12-27
公开(公告)号: CN103076347A 公开(公告)日: 2013-05-01
发明(设计)人: 万克树;薛晓波 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/06;G01B15/06
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 211189 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于原位X射线断层照相的脆性材料力学损伤的测量方法,包括以下步骤:步骤10):将一脆性材料样品固定在原位加载装置上;步骤20):对脆性材料样品进行第一次X射线断层照相测试,获得三维断层图像数据G1(x,y,z);步骤30):对脆性材料样品进行原位在线力学损伤,获得损伤样品,并记录变形量;步骤40):对损伤样品,进行第二次X射线断层照相测试,获得损伤样品的三维断层图像数据,进行三维数字图像插值处理,插值后的三维数据为G2(x,y,z);步骤50):选取子区尺寸;步骤60):测算G1-subset(x,y,z)和G2-subset(x,y,z)中体素的灰度平均值步骤70):获得损伤样品力学损伤的三维空间分布。该测量方法可以准确得到脆性材料的三维局部损伤变量的空间分布。
搜索关键词: 基于 原位 射线 断层 照相 脆性 材料力学 损伤 测量方法
【主权项】:
1.一种基于原位X射线断层照相的脆性材料力学损伤的测量方法,其特征在于,该测量方法包括以下步骤:步骤10):将一脆性材料样品用5-10牛顿的荷载力固定在基于X射线断层照相的原位加载装置上;步骤20):设定断层照相测试条件,对脆性材料样品进行第一次X射线断层照相测试,获得脆性材料样品的三维断层图像数据G1(x,y,z),其中,x的取值范围为1至x0之间的整数,y的取值范围为1至y0之间的整数,z的取值范围为1至z0之间的整数,x0、y0和z0代表脆性材料样品的三维体素尺寸;步骤30):利用原位加载装置,对步骤10)的脆性材料样品进行原位在线力学损伤,获得损伤样品,并记录在该损伤程度下的变形量;步骤40):对步骤30)的损伤样品,在与步骤20)相同的断层照相测试条件下,原位进行第二次X射线断层照相测试,获得损伤样品的三维断层图像数据,并根据该损伤程度下的变形量,对损伤样品的三维断层图像数据进行三维数字图像插值处理,插值后的三维数据为G2(x,y,z);步骤50):选取子区尺寸p,p为整数,且1≤p≤100,将相邻的p3个体素确立的立方体视为一个子区;步骤60):用步骤50)选取的子区,将G1(x,y,z)分成不同的子区G1-subset(x,y,z),测算每个G1-subset(x,y,z)中p3个体素的灰度平均值并用步骤50)选取的子区,将G2(x,y,z)分成不同的子区G2-subset(x,y,z),测算每个G2-subset(x,y,z)中p3个体素的灰度平均值步骤70):利用式(1)获得损伤样品力学损伤的三维空间分布,D(x,y,z)=G1-subset(x,y,z)-G2-subset(x,y,z)G1-subset(x,y,z)]]>式(1)其中,D(x,y,z)表示损伤样品力学损伤的三维空间分布位置,表示G1(x,y,z)中每个子区G1-subset(x,y,z)中p3个体素的灰度平均值,表示G2(x,y,z)中每个子区G2-subset(x,y,z)中p3个体素的灰度平均值。
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