[发明专利]一种航天器上设备精度的测定方法有效
| 申请号： | 201210574762.3 | 申请日： | 2012-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN103076041A | 公开（公告）日： | 2013-05-01 |
| 发明（设计）人： | 嵇景全;周耀华;丛飞;肖刚;王东;周孝伦;董方成 | 申请（专利权）人： | 北京空间飞行器总体设计部 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种航天器上设备精度的测定方法。在待测量设备上安装一个标定转移基准；待测量设备交付前，测量标定转移基准与待测量设备之间的关系；待测量设备交付装于卫星上后，测量标定转移基准的精度，然后通过得到的测量标定转移基准与待测量设备之间的关系，得到待测量设备的精度。本发明针对航天器上有精度要求的设备精测光路被遮挡的情况，实现对设备进行精测；该方法简单、安全、可靠、准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 航天器 设备 精度 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种航天器上设备精度的测定方法，其特征在于该方法的步骤包括：1)在待测量设备上安装一个标定转移基准镜；2)待测量设备交付前，测量标定转移基准镜与待测量设备之间的关系；3)待测量设备交付装于卫星上后，测量标定转移基准镜的精度，然后通过步骤2)得到的测量标定转移基准镜与待测量设备之间的关系，得到待测量设备的精度。
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