[发明专利]同步偏振调制干涉成像光谱偏振探测装置及方法有效
| 申请号： | 201210563403.8 | 申请日： | 2012-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN103063303A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 李建欣;孟鑫;刘德芳;周伟;郭仁慧;沈华;马骏;朱日宏;陈磊;何勇 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01J3/447 | 分类号： | G01J3/447;G01J3/45;G01J4/00 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 朱显国 |
| 地址： | 210094 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种同步偏振调制干涉成像光谱偏振探测装置及方法，该装置包括在同一光轴顺次放置的前置偏振成像系统、像面干涉成像光谱仪和信号处理系统。入射光通过偏振元件阵列，形成携带四组不同偏振态信息的光束，并在微透镜阵列后焦面的空间上分开；分开的各点光线经过准直物镜后射入到横向剪切分束器，被横向一分为二，引入光程差信息；两支出射光经过后置成像物镜，在探测器靶面上得到携带有干涉信息和偏振态信息的目标图像，并转化为电信号进入信号处理系统，进行傅里叶变换，得到目标各点的二维空间光强信息、光谱信息和全Stokes偏振信息。具有高光谱分辨率，高信噪比，全Stokes偏振信息同时探测的优点，可以用于窄带或宽带光谱探测。 | ||
| 搜索关键词： | 同步 偏振 调制 干涉 成像 光谱 探测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种同步偏振调制干涉成像光谱偏振探测装置，其特征在于包括在同一光轴顺次放置的前置偏振成像系统(1)、像面干涉成像光谱仪(2)和信号处理系统(3)；其中前置偏振成像系统(1)包括沿光路方向依次设置的偏振元件阵列(11)、成像物镜(12)和微透镜阵列(13)，并且微透镜阵列(13)置于成像物镜(12)的像面处；像面干涉成像光谱仪(2)包括沿光路方向依次设置的准直物镜(21)、横向剪切分束器(22)、成像物镜(23)、探测器(24)；信号处理系统(3)与探测器(24)相连。
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