[发明专利]红外焦平面阵列探测器读出电路的ADC余量放大电路

摘要

本发明实施例公开了一种红外焦平面阵列探测器读出电路的ADC余量放大电路，该电路采用套筒式运放，并且在等效失调电压源Vos和第一采样电容C1之间加入第一电容C3，在运算放大器的第二输入端in和第二采样电容C2之间加入第二电容C4，可以消除运算放大器失调电压对电路性能的影响，以及减小电容对电压的非线性对电路性能的影响。

主权项

一种红外焦平面阵列探测器读出电路的ADC余量放大电路，其特征在于，包括：运算放大器，所述运算放大器包括第一输入端（ip）、第二输入端（in）、第一输出端（outp）和第二输出端（outn）；第一采样电容（C1）、第二采样电容（C2）、第一反馈电容（C5）、第二反馈电容（C6）、第一电容（C3）、第一采样开关（P1）、第二采样开关（P1_d）、第三采样开关（P1_FDOA）、第一保持开关（P2_d）和第二保持开关（P2_dg），其中：所述第一电容（C3）的一端连接到所述运算放大器的所述第一输入端（ip），并且通过第一采样开关（P1）连接到移位电压（Vsh）；所述第一电容（C3）的另一端连接到所述第一采样电容（C1）和所述第一反馈电容（C5）的一端，并且通过所述第一采样开关（P1）连接到共模电压（共模电压（Vcm））；所述第一反馈电容（C5）的另一端通过所述第二采样开关（P1_d）连接到第一输入信号端（Vinp），并且通过所述第一保持开关（P2_d）连接到所述运算放大器的所述第二输出端（outn）；所述第一采样电容（C1）的另一端通过所述第二采样开关（P1_d）连接到所述第一输入信号端（Vinp），并且通过所述第二保持开关（P2_dg）连接到正向参考电压（Vrefp）；所述第二电容（C4）的一端连接到所述运算放大器的所述第二输入端（in），并且通过所述第一采样开关（P1）连接到移位电压（Vsh）；所述第二电容（C4）的另一端连接到所述第二采样电容（C2）和所述第二反馈电容（C6）的一端，并且通过所述第一采样开关（P1）连接到共模电压（共模电压（Vcm））；所述第二反馈电容（C6）的另一端通过所述第二采样开关（P1_d）连接到第二输入信号端（Vinn），并且通过所述第一保持开关（P2_d）连接到所述运算放大器的所述第一输出端（outp）；所述第二采样电容（C2）的另一端通过所述第二采样开关（P1_d）连接到所述第二输入信号端（Vinn），并且通过所述第二保持开关（P2_dg）连接到负向参考电压（Vrefn）。