[发明专利]多循环快速热退火非晶硅薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 201210487362.9 申请日: 2012-11-27
公开(公告)号: CN102978590A 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 金晶;瞿晓雷;史伟民;戴文韫;袁安东 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: C23C16/56 分类号: C23C16/56
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 陆聪明
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及多循环快速热退火晶化非晶硅薄膜的方法,属于多晶硅薄膜制备工艺技术领域。用气相沉积法在普通玻璃载片衬底上沉积非晶硅薄膜;随后进行快速热处理,升温速率在150-200℃/s左右,将薄膜样品从室温升至640℃后再恒温一段时间,然后自然冷却,当薄膜温度冷却到达室温时,再进行下一次循环;经过多次快速热退火后晶化非晶硅薄膜。用该方法可制得晶化率在71.9%左右的多晶硅薄膜。和传统的固相晶化非晶硅薄膜工艺相比,该方法在降低了对衬底要求的同时,也缩短了处理时间,具有制备工艺简单、污染小和成本低等特点。因此用本发明制备的多晶硅薄膜可适用于薄膜晶体管、太阳能电池等微电子制造领域。
搜索关键词: 循环 快速 退火 非晶硅 薄膜 方法
【主权项】:
一种多循环快速热退火晶化非晶硅薄膜的方法,其特征在于其有以下的过程和步骤:a)      使用普通玻璃载片作为衬底,分别用分析纯丙酮,酒精和去离子水对衬底进行超声波清洗,使玻璃衬底清洁,烘干后放入等离子增强化学气相沉积反应室;b)      采用等离子增强化学气相沉积(PECVD)设备在载玻片生长一层非晶硅a‑Si薄膜,沉积时衬底的温度为150oC~250oC,沉积压强即真空度为1.lTorr,沉积薄膜厚度为200 nm~300nm;溅射功率为200W,射频频率为13.56MHz;气源为纯度为100%的硅烷,作为稀释硅烷使用的氢气纯度为5N;c)      用氢氟酸来去除非晶硅薄膜表面的氧化层;将非晶硅薄膜放置于HF:H2O=1:100的溶液中浸泡1‑2min,取出用去离子水冲洗干净烘干,然后将非晶硅样品放置于快速热退火炉的石英支架上,推入石英腔内;d)     升温从室温开始,以150‑200oC/s左右的升温速率快速提升温度,将薄膜表面升温至640oC后再恒温一段时间,然后开始自然冷却;当薄膜温度冷却到达室温后,按同法再进行下一次升温,在整个退火过程中,通入氮气作为保护气体;e)      按上法经过多次循环快速热退火,以达到晶化效果,最后制得多晶硅薄膜。
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