[发明专利]多循环快速热退火非晶硅薄膜的方法无效
申请号: | 201210487362.9 | 申请日: | 2012-11-27 |
公开(公告)号: | CN102978590A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 金晶;瞿晓雷;史伟民;戴文韫;袁安东 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | C23C16/56 | 分类号: | C23C16/56 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 陆聪明 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及多循环快速热退火晶化非晶硅薄膜的方法,属于多晶硅薄膜制备工艺技术领域。用气相沉积法在普通玻璃载片衬底上沉积非晶硅薄膜;随后进行快速热处理,升温速率在150-200℃/s左右,将薄膜样品从室温升至640℃后再恒温一段时间,然后自然冷却,当薄膜温度冷却到达室温时,再进行下一次循环;经过多次快速热退火后晶化非晶硅薄膜。用该方法可制得晶化率在71.9%左右的多晶硅薄膜。和传统的固相晶化非晶硅薄膜工艺相比,该方法在降低了对衬底要求的同时,也缩短了处理时间,具有制备工艺简单、污染小和成本低等特点。因此用本发明制备的多晶硅薄膜可适用于薄膜晶体管、太阳能电池等微电子制造领域。 | ||
搜索关键词: | 循环 快速 退火 非晶硅 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
一种多循环快速热退火晶化非晶硅薄膜的方法,其特征在于其有以下的过程和步骤:a) 使用普通玻璃载片作为衬底,分别用分析纯丙酮,酒精和去离子水对衬底进行超声波清洗,使玻璃衬底清洁,烘干后放入等离子增强化学气相沉积反应室;b) 采用等离子增强化学气相沉积(PECVD)设备在载玻片生长一层非晶硅a‑Si薄膜,沉积时衬底的温度为150oC~250oC,沉积压强即真空度为1.lTorr,沉积薄膜厚度为200 nm~300nm;溅射功率为200W,射频频率为13.56MHz;气源为纯度为100%的硅烷,作为稀释硅烷使用的氢气纯度为5N;c) 用氢氟酸来去除非晶硅薄膜表面的氧化层;将非晶硅薄膜放置于HF:H2O=1:100的溶液中浸泡1‑2min,取出用去离子水冲洗干净烘干,然后将非晶硅样品放置于快速热退火炉的石英支架上,推入石英腔内;d) 升温从室温开始,以150‑200oC/s左右的升温速率快速提升温度,将薄膜表面升温至640oC后再恒温一段时间,然后开始自然冷却;当薄膜温度冷却到达室温后,按同法再进行下一次升温,在整个退火过程中,通入氮气作为保护气体;e) 按上法经过多次循环快速热退火,以达到晶化效果,最后制得多晶硅薄膜。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
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