[发明专利]一种成像偏振探测系统无效
申请号: | 201210474029.4 | 申请日: | 2012-11-21 |
公开(公告)号: | CN103837477A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 苗朗;常利利 | 申请(专利权)人: | 西安中科麦特电子技术设备有限公司 |
主分类号: | G01N21/21 | 分类号: | G01N21/21;G01J3/447 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 贺建斌 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种成像偏振探测系统,光源卤素灯发射可见光,经入射光传导光纤导出,再经聚光镜聚光,第一透镜、第一透镜和第一光栅共同组成4F准直系统,起偏器用来对可见光起偏,产生线性偏振光,调制好的线性偏振光以入射角α入射到检测样品上,在散射光的检测部分,光束分离检偏器充当检偏器的作用,通过光束分离检偏器可以选择后向散射光中与起偏器分别平行和垂直的分量,经检测样品6所散射的光由第二透镜和第三透镜聚焦后分别通过一根第一光纤、第二光纤导入光谱仪的多道分光器进行探测,成像清晰、分辨率高、成像精确。 | ||
搜索关键词: | 一种 成像 偏振 探测 系统 | ||
【主权项】:
一种成像偏振探测系统,包括入射光调节部分和散射光检测部分,其特征在于:入射光调节部分包括卤素灯(1)、入射光传导光纤(2)、自准直光学系统(3)、偏振片(4)、光束分离器(5);散射光检测部分包括第二光栅(7)、反射镜(8)、第三光栅(9)、光束分离检偏器(10)、第三透镜(11)、第一导入光纤(12)、第四透镜(13)、第二导入光纤(14)、多道分光镜(15);第一光栅(3.2)位于第二透镜(3.3)的焦平面上,偏振片安装在入射传导光纤(2)的远端自准直系统(3)之后,起偏器(4)在入射光调制部分,光束检偏分离器(10)在信号光探测部分,光源卤素灯(1)宽带光源,多道分光镜安装在第一导入光纤(12)、第二导入光纤(14)末端,将光束分离成两个信道进入光谱分析仪,反光镜(8)用于反射光束分离器(5)分离出的光经过检测样本(6)反射的光,光束分离检偏器(10)用于偏离反射镜(8)反射的光线,将光线经过透镜聚光后导入第一导入光纤(12)、第二导入光纤(14)中,第三透镜(11)和第四透镜(13)是会聚透镜。
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