[发明专利]时序测试系统及其测试方法有效
| 申请号： | 201210473394.3 | 申请日： | 2012-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN102928772A | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 索鑫 | 申请（专利权）人： | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3177 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种时序测试系统，包括：提供测试机台，所述测试机台包括测试向量存储单元、信息记录单元、采样单元和处理器单元；选定被测芯片；通过处理器单元控制测试向量存储单元向被测芯片输入一个激励信号；被测芯片接收到激励信号之后输出一个与此激励信号对应的具有一定时间延迟的响应信号；采样单元对所述响应信号以一固定的采样频率f进行多次采样；信息记录单元将采样数据实时存储进指定地址；处理器单元从信息记录单元的指定地址内读取采样数据，计算出延迟时间T，并输出结果。利用该时序测试系统的时序测试方法，能够有效提高时序测试的效率，节省时间。 | ||
| 搜索关键词： | 时序 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种时序测试方法，其特征在于，包括：提供测试机台，所述测试机台包括测试向量存储单元、信息记录单元、采样单元和处理器单元；选定被测芯片；通过处理器单元控制测试向量存储单元向被测芯片输入一个激励信号；被测芯片接收到激励信号之后输出一个与此激励信号对应的具有时间延迟的响应信号，所述延迟的时间为T；激励信号发生变化的同时触发采样单元对所述响应信号以一固定的采样频率f进行多次采样，直到采样数据发生变化时停止采样，并且在采样的同时向信息记录单元输出采样数据，所述采样数据的个数为n；信息记录单元将采样数据实时存储进指定地址；处理器单元从信息记录单元的指定地址内读取采样数据，计算出延迟时间T，并输出结果，所述延迟时间T=(1/f)×n。
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