[发明专利]相位式阵列装置和校准方法有效

专利信息
申请号: 201210448771.8 申请日: 2012-11-09
公开(公告)号: CN103297360A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 尚恩·提摩西·尼克森;梁鹃伉;詹景宏 申请(专利权)人: 联发科技(新加坡)私人有限公司
主分类号: H04L25/02 分类号: H04L25/02;H04B7/08;H04B17/00
代理公司: 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人: 于淼;杨颖
地址: 新加坡启汇城*** 国省代码: 新加坡;SG
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摘要: 发明提供一种相位式阵列装置和校准方法,该校准方法在该相位式阵列装置上执行,该相位式阵列装置包括藉由一传输线平行耦接的多个通道元件,上述校准方法包括:经由上述传输线,获取对应于上述多个通道元件的多个通道回应值,其中每个上述通道回应值于上述多个通道元件的其中一个打开,且上述多个通道元件的其他通道元件关闭时获取;根据上述获取的通道元件的通道回应值,计算对应于上述传输线的特性值;以及根据上述传输线的特性值,调整上述通道元件的其中一个的通道参数。本发明实施例能够对系统内各通道元件的所有相位和增益失配值进行校准。
搜索关键词: 相位 阵列 装置 校准 方法
【主权项】:
一种校准方法,在一相位式阵列装置上执行,其特征在于,该相位式阵列装置包括藉由一传输线平行耦接的多个通道元件,上述校准方法包括:经由上述传输线,获取对应于上述多个通道元件的多个通道回应值,其中每个上述通道回应值于上述多个通道元件的其中一个打开,且上述多个通道元件的其他通道元件关闭时获取;根据上述获取的通道元件的通道回应值,计算对应于上述传输线的特性值;以及根据上述传输线的特性值,调整上述通道元件的其中一个的通道参数。
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