[发明专利]振荡装置有效

专利信息
申请号: 201210420874.3 申请日: 2012-10-29
公开(公告)号: CN103095215A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 小林薫 申请(专利权)人: 日本电波工业株式会社
主分类号: H03B5/04 分类号: H03B5/04
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 臧建明
地址: 日本东京涉谷区笹*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种振荡装置。利用共通的晶体片构成第1及第2晶体振动子,并且,将分别连接于所述多个晶体振动子的第1及第2振荡电路的振荡输出设为f1、f2,将基准温度时的第1及第2振荡电路的振荡频率分别设为f1r、f2r时,将对应于如下差分值的值视作此时的温度,该差分值是对应于f1与f1r的差分的值、和对应于f2与f2r的差分的值之间的差分值。然后,基于对应于该差分值的值,利用f1的频率修正值的近似式,求出第1修正值,并根据作为该第1修正值和实测的频率修正值的差的修正残差,求出用于抵消该修正残差量的第2修正值。然后,根据所述第1修正值和第2修正值的和,求出频率修正值。
搜索关键词: 振荡 装置
【主权项】:
一种振荡装置,基于环境温度的检测结果,来修正用于设定输出频率的设定信号,所述振荡装置的特征在于包括:第1晶体振动子,在晶体片上设置第1电极而构成;第2晶体振动子,在晶体片上设置第2电极而构成;第1振荡电路及第2振荡电路,分别连接在所述第1晶体振动子及第2晶体振动子;频率差检测部,将所述第1振荡电路的振荡频率设为f1,将基准温度时的所述第1振荡电路的振荡频率设为f1r,将所述第2振荡电路的振荡频率设为f2,将基准温度时的所述第2振荡电路的振荡频率设为f2r,所述频率差检测部求出对应于差分值的值,所述差分值是对应于f1与f1r的差分的值、和对应于f2与f2r的差分的值之间的差分值;第1修正值取得部,基于第1近似式而取得第1修正值,该第1近似式表示:对应于所述频率差检测部检测的所述差分值的值、对应于所述差分值的值、及因环境温度与基准温度不同引起的所述第1振荡电路的振荡频率f1的频率修正值之间的关系;第2修正值取得部,基于第2近似式而取得第2修正值,该第2近似式在将所述第1近似式决定的第1修正值与预先实测的频率修正值之间的差分称为修正残差时,表示:对应于所述差分值的值、对应于以预先设定的间隔排列的所述差分值的值的群、及针对对应于属于所述群的所述差分值的每个值而预先取得的修正残差之间的关系;以及加法部,将所述第1修正值与第2修正值相加,求出所述频率修正值;振荡装置的输出是利用所述第1振荡电路的输出而生成,基于所述加法部求出的所述频率修正值,对所述设定信号进行修正。
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