[发明专利]电子设备冲击老化试验台无效
| 申请号： | 201210412940.2 | 申请日： | 2012-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN103777088A | 公开（公告）日： | 2014-05-07 |
| 发明（设计）人： | 周柏林;代雪梅 | 申请（专利权）人： | 深圳市雅其光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/44 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市龙岗区布吉*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 电子设备冲击老化试验台，本发明由输出1、2、3、4，时间继电器5，转换接触器6，稳压电源7，执行器8、9、10、11，程控单元12，调整13组成，输出1、2、3、4负载通过执单元8、9、10、11和程控单元12交替关断、接通220V电源。调整13可对接通、关断时间调整。可调时间继电器5可设定开关老化时间。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 冲击 老化 试验台 | ||
【主权项】：
本发明主要由时间继电器5，转换接触器6，执行器8、9、10、11，程控单元12。
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