[发明专利]X射线CT装置及X射线CT装置的动作方法有效
申请号: | 201210397486.8 | 申请日: | 2012-10-18 |
公开(公告)号: | CN103054599A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | A·扎米亚京;T·拉博 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;G06T11/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 戚宏梅;杨谦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种实现新的条状伪影减小方法的X射线计算机断层摄像装置和X射线计算机断层摄像装置的动作方法。X射线计算机断层摄像装置通过使用照射锥形的X射线的X射线管和在列方向上配置有多列由多个检测元件构成的检测元件列的检测器执行螺旋扫描,取得实测数据,在列方向上对实测数据进行上采样以便使用规定的检测元件列附近处的被减小的采样间隔来获得插补数据,基于规定的锥束加权函数来决定与实测数据和插补数据各自有关的权重系数,通过执行使用了权重系数、实测数据、插补数据的图像重建来生成条状伪影被减小的重建图像。 | ||
搜索关键词: | 射线 ct 装置 动作 方法 | ||
【主权项】:
一种X射线计算机断层摄像装置,其特征在于,包括:摄像单元,通过使用X射线管和检测器执行螺旋扫描来取得实测数据,所述X射线管照射锥形的X射线,所述检测器在列方向上排列有多列由多个检测元件构成的检测元件列;上采样单元,在所述列方向上对所述实测数据进行上采样,以便使用在规定的检测元件列附近处的被减小的采样间隔来获得插补数据;决定单元,基于规定的锥束加权函数,决定与所述实测数据和所述插补数据各自有关的权重系数;以及重建单元,通过执行使用了所述权重系数、所述实测数据、所述插补数据的图像重建,来生成条状伪影被减小的重建图像。
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