[发明专利]基于子系统分解的LED照明灯具加速试验方法无效

专利信息
申请号: 201210396830.1 申请日: 2012-10-18
公开(公告)号: CN102890249A 公开(公告)日: 2013-01-23
发明(设计)人: 蔡苗;杨道国;陈文彬;梁丽丽;龚铭;田万春;唐红雨;贾红亮 申请(专利权)人: 桂林电子科技大学
主分类号: G01R31/44 分类号: G01R31/44
代理公司: 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 代理人: 滕杰锋
地址: 541004 广西*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明公开了一种基于子系统分解的LED照明灯具加速试验方法,首先,将LED灯具系统分解为若干个功能独立的子系统;然后,在保持整个系统能闭合工作的前提下,将目标子系统置于加速试验环境中,并进行可靠性加速试验;通过利用加速试验过程中测量的数据结果,外推得到目标子系统的可靠度函数;最后,结合各子系统与整灯系统性能变化的相关性,应用系统可靠性统计分析方法综合各子系统的可靠度函数,进而推导出整个LED灯具系统的可靠度函数,实现整灯系统的可靠性评估。本发明的方法避免了直接针对整灯系统的可靠性加速试验的复杂性甚至不可行性,其不仅可用于LED照明灯具的可靠性加速试验评估中,而且可作为其它复杂系统加速试验评估的借鉴。
搜索关键词: 基于 子系统 分解 led 照明 灯具 加速 试验 方法
【主权项】:
一种基于子系统分解的LED照明灯具加速试验方法,其特征是:包括如下步骤:(1)依据不同的功能模块,将LED灯具系统分解为相互独立的若干个不同的子系统;(2)在各子系统原有的电气连接处用导线引出连接端口,保证各连接端口的可靠性与易用性;(3)将目标子系统置于加速试验环境中,联接各子系统的连接端口,使整个系统保持闭合工作状态,实现目标子系统分离式的可靠性加速试验;(4)在加速试验过程的各时间节点,测量并收集LED灯具系统性能退化参数及样品失效数据;(5)通过利用加速试验过程中测量的数据结果,外推并得到目标子系统的可靠度函数;(6)对其它子系统,重复步骤(3),(4),(5),得到各个子系统的可靠度函数;(7)在考虑各子系统之间的逻辑关系及相互影响的情况下,应用系统可靠性统计分析方法综合各子系统的可靠度函数,推导出整个LED灯具系统的可靠度函数,实现整灯系统可靠性寿命评估。
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