[发明专利]一种受有机物污染地下水流向的快速判断方法有效
申请号: | 201210393723.3 | 申请日: | 2012-10-17 |
公开(公告)号: | CN102901721A | 公开(公告)日: | 2013-01-30 |
发明(设计)人: | 席北斗;何小松;姜永海;许其功;白顺果;李丹 | 申请(专利权)人: | 中国环境科学研究院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01P13/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周长兴 |
地址: | 100012 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种受有机物污染地下水流向的快速判断方法,主要步骤如下:A)样品采集;B)样品预处理与荧光光谱测定;C)三维荧光光谱数据处理;D)不同类别荧光有机物的区域荧光体积占总体积比例计算;E)不同点地下水样品中荧光有机物组成相似性分析;F)地下水流向判断。本发明样品需求量少,检测灵敏度高,工作量少,检测速度快,环境友好。 | ||
搜索关键词: | 一种 有机物 污染 地下水 流向 快速 判断 方法 | ||
【主权项】:
一种受有机物污染地下水流向的快速判断方法,主要步骤如下:A)样品采集:在污染源区、污染源区两侧不同距离范围内采集地下水样品;B)样品预处理与荧光光谱测定:将所采集的地下水样品过滤后进行三维荧光光谱测定;C)三维荧光光谱数据处理:将测定所得荧光矩阵数据导出,获得三维荧光光谱矩阵数据;将其中的负值、激发波长大于发生波长范围内的数据、以及受一次瑞利散射影响的数据赋值为0,将受二次瑞利散射影响的区域进行数据校正;D)不同类别荧光有机物的区域荧光体积占总体积比例计算:将各地下水样品的三维荧光光谱图所导出的矩阵数据分为若干个区域,计算各区的区域体积占总体积的百分比;E)不同点地下水样品中荧光有机物组成相似性分析:将各采样点的区域荧光体积百分比数据进行变量聚类分析;F)地下水流向判断:(1)若污染源区左右两侧的点首先聚为一类,最后再与污染源区所在点聚为一类,则地下水的流向与采样点方向垂直,需要在第一次采样的垂直方向上重新采集污染源区两侧的地下水,并重复步骤A‑E,直到污染源区所在点首先与污染源区一侧的若干个点先聚为一类;(2)若污染源一侧的点先与污染源点聚为一类,再与污染源区另一侧的若干个点聚为一类,则先与污染源区聚为一类的一侧为地下水的下游,最后与污染源区地下水聚为一类的点为地下水的上游。
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