[发明专利]一种高分辨率遥感数据大气校正方法有效
申请号: | 201210392749.6 | 申请日: | 2012-10-16 |
公开(公告)号: | CN102955154A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | 仲波;吴善龙;柳钦火 | 申请(专利权)人: | 中国科学院遥感应用研究所 |
主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497;G01S7/48 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹 |
地址: | 100101 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种高分辨率遥感数据大气校正方法包括步骤:S1从数据元信息中获取相关信息;S2计算典型地表的表观反射率;S3获取典型地表的掩膜;S4利用大气辐射传输模型建立AOD反演大气校正查找表;S5计算典型地表的AOD;S6获取地表分类图;S7通过空间扩展的方法形成整幅图像的AOD;S8根据整幅图像的AOD和大气校正查找表,对所述高分辨率遥感数据进行大气校正,得到所述高分辨率遥感数据的地表反射率。本方法利用高分辨率卫星遥感数据获取整幅图像的AOD,提高了大气校正的精度和可用性,并实现了从AOD到大气校正整个流程的自动化。 | ||
搜索关键词: | 一种 高分辨率 遥感 数据 大气 校正 方法 | ||
【主权项】:
一种高分辨率遥感数据大气校正方法,其特征在于,包括步骤:S1从数据元信息中提取定标信息、太阳几何信息、观测几何信息、数据获取日期与时间、数据类型;S2根据高分辨率遥感数据、定标公式、定标信息和太阳几何信息计算典型地表的表观反射率;S3根据所述表观反射率获取典型地表的掩膜;S4利用大气辐射传输模型建立AOD反演查找表和大气校正查找表;S5根据数据元信息、AOD反演查找表和典型地表的表观反射率信息计算典型地表的AOD;S6对所述典型地表的表观反射率数据进行非监督分类,得到相应的地表分类图;S7将典型地表的AOD与地表分类图结合,通过空间扩展的方法形成整幅图像的AOD;S8根据整幅图像的AOD和大气校正查找表,对所述高分辨率遥感数据进行大气校正,得到所述高分辨率遥感数据的地表反射率。
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