[发明专利]一种超宽谱脉冲幅值的自校准测量方法有效

专利信息
申请号: 201210366464.5 申请日: 2012-09-28
公开(公告)号: CN102914700A 公开(公告)日: 2013-02-06
发明(设计)人: 刘锋;王希波;袁雪林;邵贤忠;郝文析;万可友;郑翠薇;周世友 申请(专利权)人: 西北核技术研究所
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 71002*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提出了一种超宽谱脉冲幅值的自校准测量方法,包括超宽谱脉冲源、多个衰减器组合和示波器构成的测量系统,通过接入不同的衰减器组合,在示波器上得到不同的测量值,由此精确计算出各衰减器组合中每个衰减器的衰减量,从而精确计算出超宽谱脉冲源的输出脉冲幅值。本发明解决了衰减器对于不同超宽谱脉冲衰减量不同的问题,有效地克服了衰减器采用频域标定结果所导致的测量误差,可显著提高超宽谱脉冲的测量精度,并能准确标定衰减器的衰减系数,而且使用的衰减器个数越多,测量的精度会越高。
搜索关键词: 一种 超宽谱 脉冲 校准 测量方法
【主权项】:
一种超宽谱脉冲幅值的自校准测量方法,其特征在于:包括以下步骤:【1】在待测量超宽谱脉冲源和示波器之间串联接入A1、A2……An共计n只衰减器,示波器测得电压信号V;所述衰减器数量不少于3只;【2】去掉步骤1中的衰减器A1,测量得到n‑1只串联衰减器时的电压信号V1;【3】去掉步骤1中的衰减器A2,测量得到n‑1只串联衰减器时的电压信号V2;【4】按照步骤2和步骤3的规律依次测量得到电压信号V3至Vn;【5】按照公式ki=V/Vi计算得到每只衰减器的衰减系数,其中ki是第i只衰减器的衰减系数,i取值为1至n;【6】按照公式U=k1*k2*……*kn*V,计算得到待测量的脉冲源信号幅值U。
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