[发明专利]立式大量程高精度光学平面测试装置有效
| 申请号： | 201210363897.5 | 申请日： | 2012-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN102878949A | 公开（公告）日： | 2013-01-16 |
| 发明（设计）人： | 马冬梅;宋立维;王涛 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 张伟 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 立式大量程高精度光学平面测试装置属于光学测试仪器领域，该装置包括：支撑底台、水平转台、精密转台、长导轨、第一反射镜、第二反射镜、第一测角装置、第二测角装置、滑板、数据采集分析系统和电控系统；支撑底台上依次放置水平转台和精密转台，精密转台的一侧与长导轨连接，长导轨上安装滑板、第一测角装置和第二测角装置；第一反射镜和第二反射镜固定在滑板上，滑板在长导轨上运动；数据采集分析系统控制第一测角装置和第二测角装置，电控系统控制精密转台和滑板运动。该装置其体积小、重量轻，可在不同姿态下使用，测试精度不受重力影响，结构简单，易于设计加工，可测试口径主要取决于长导轨的有效量程。 | ||
| 搜索关键词： | 立式 量程 高精度 光学 平面 测试 装置 | ||
【主权项】：
立式大量程高精度光学平面测试装置，其特征在于，该装置包括：支撑底台、水平转台、精密转台、长导轨、第一反射镜、第二反射镜、第一测角装置、第二测角装置、滑板、数据采集分析系统和电控系统；所述支撑底台上依次放置水平转台和精密转台，精密转台的一侧与长导轨连接，长导轨上安装滑板、第一测角装置和第二测角装置；所述第一反射镜和第二反射镜固定在滑板上，滑板在长导轨上运动；所述数据采集分析系统控制第一测角装置和第二测角装置，电控系统控制精密转台和滑板运动。
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