[发明专利]一种在集成电路中实现IO反向漏电检测的方法及电路有效
| 申请号： | 201210351429.6 | 申请日： | 2012-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN103675577A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 马哲;宁作良;张诗娟 | 申请（专利权）人： | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100102 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 在集成电路的上电过程中，经常会出现外部信号先于电源上电的情况。当该情况发生时，外部信号会通过I/O电路的ESD PMOS及驱动PMOS管向集成电路电源端口反向漏电，代替外部电源为集成电路供电。这种反向漏电容易影响集成电路正常工作。本发明提供了一种对I/O反向漏电进行检测的方法，通过对I/O端口电压和电源端口电压的比较，可以判断集成电路供电是源于I/O端口还是电源端口。当检测到I/O端口供电、反向漏电发生时，检测电路将复位集成电路，从而避免集成电路在非正常状态下工作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 实现 io 反向 漏电 检测 方法 电路 | ||
【主权项】：
一种在集成电路中检测反向漏电的方法，其特征在于通过比较I/O端口电压与电源端口电压来判断集成电路是否产生反向漏电现象。
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