[发明专利]检测装置及检测圆轴的外径、跳动值、真圆度的方法

摘要

一种检测装置及采用上述检测装置检测圆轴的外径、跳动值、真圆度的方法，包括基部、光学测量部、顶尖部和PC-PLC控制中心；其中基部包括基板和两基板导轨，光学测量部和顶尖部滑动安装在基部上；光学测量部包括光学测量仪导轨和光学测量仪，光学测量仪导轨滑动设于基板导轨上；光学测量仪滑动设于所述光学测量仪导轨上；顶尖部包括顶尖导轨及滑动地设置在顶尖导轨上第一顶尖结构和第二顶尖结构。PC-PLC控制中心控制光学测量部、顶尖部相对基部的运动。通过光学测量仪对待检测圆轴测量，并将测量数据反馈给PC-PLC控制中心，PC-PLC控制中心则可根据所测量数据计算出待检测圆轴的外径、跳动值和真圆度。

主权项

一种检测装置，其特征在于，其包括基部、光学测量部、顶尖部和PC‑PLC控制中心；所述光学测量部和所述顶尖部滑动地安装在所述基部上；所述PC‑PLC控制中心控制所述光学测量部、所述顶尖部相对所述基部的运动；所述基部包括基板和设于所述基板上的两条基板导轨；所述两条基板导轨分别沿其横向延伸，并在纵向上相间设置；所述光学测量部包括光学测量仪导轨和设于所述光学测量仪导轨上的光学测量仪；所述光学测量仪用于对待检测圆轴进行测量，并将测量数据反馈给所述PC‑PLC控制中心，所述PC‑PLC控制中心根据所述测量数据计算出所述待检测圆轴的检测数据；所述光学测量仪导轨横向滑动设置在所述基板导轨上；所述光学测量仪滑动地设置在所述光学测量仪导轨上；所述顶尖部包括顶尖导轨、第一顶尖结构和第二顶尖结构；所述顶尖导轨沿横向其横向延伸设置在所述基板上，并在纵向上与所述两个基板导轨间隔设置；所述第一顶尖结构沿横向其横向可滑动地设置在所述顶尖导轨的一端；所述第二顶尖结构沿其横向横向可滑动地设置在所述顶尖导轨的另一端。