[发明专利]振荡装置有效

专利信息
申请号: 201210280028.6 申请日: 2012-08-08
公开(公告)号: CN102931977A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 小林薰 申请(专利权)人: 日本电波工业株式会社
主分类号: H03L1/02 分类号: H03L1/02
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种振荡装置,其能够抑制存储器的容量。该振荡装置具备:频率差检测部,当将第一振荡电路的振荡频率设为f1,将基准温度时的第一振荡电路的振荡频率设为f1r,将第二振荡电路的振荡频率设为f2,将基准温度时的第二振荡电路的振荡频率设为f2r时,上述频率差检测部求出与f1与f1r的差所对应的值和f2与f2r的差所对应的值的差值对应的差对应值;和校正值取得部,其基于由该频率差检测部检测出的上述差对应值x,取得由于环境温度与基准温度不同而引起的f1的频率校正值,其中,当将装置固有的除法系数设为k时,上述校正值取得部具备通过对于作为与x/k相当的值的X运算n次多项式而求出f1的频率校正值的功能,由此,减小多项式的系数。
搜索关键词: 振荡 装置
【主权项】:
一种振荡装置,其基于环境温度的检测结果,校正用于设定输出频率的设定信号,该振荡装置的特征在于,具备:在晶体片设置第一电极而构成的第一晶体振子;在晶体片设置第二电极而构成的第二晶体振子;与这些第一晶体振子和第二晶体振子分别连接的第一振荡电路和第二振荡电路;频率差检测部,当将第一振荡电路的振荡频率设为f1,将基准温度时的第一振荡电路的振荡频率设为f1r,将第二振荡电路的振荡频率设为f2,将基准温度时的第二振荡电路的振荡频率设为f2r时,所述频率差检测部求出与f1与f1r的差所对应的值和f2与f2r的差所对应的值的差值对应的差对应值;和校正值取得部,其基于由该频率差检测部检测出的所述差对应值x,取得由于环境温度与基准温度不同而引起的f1的频率校正值,其中,A)当将为了减小多项式的系数而导入的装置固有的除法系数设为k时,所述校正值取得部具备通过对于作为与x/k相当的值的X运算n次多项式而求出f1的频率校正值的功能,其中,n为4以上,B)所述除法系数k是根据在测量温度范围预先检测出的所述差对应值的最大值而预先设定的值,C)振荡装置的输出利用所述第一振荡电路的输出而生成,D)基于由所述校正值取得部求出的所述频率校正值,校正所述设定信号。
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