[发明专利]一种有源天线系统射频指标及无线指标的测试方法与装置有效
| 申请号： | 201210264184.3 | 申请日： | 2012-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN102830298A | 公开（公告）日： | 2012-12-19 |
| 发明（设计）人： | 王博明;李香玲;郭险峰;王鹏 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 吴艳;龙洪 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种有源天线系统射频指标及无线指标的测试方法与装置，采用基于近场耦合方式的一种探针式的测试罩，对被测有源天线系统的射频指标进行测试，包括：测试罩单体校准；测试罩环境校准；射频指标测试，将被测有源天线系统置于测试罩中，测试环境与校准环境相同，根据校准得到的校准结果对测试环境进行补偿后，通过测试探针的射频端口对被测有源天线系统进行射频测试。本发明同时提出一种综合的测试方法，分别采用空间射频(OTA)测试对有源天线系统的空间特性进行测试，采用近场耦合方式对有源天线系统的射频指标进行测试，充分结合了两种测试方法的优点，克服了两者的缺陷和问题，从而在测试效率和测试成本上达到最优化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 有源 天线 系统 射频 指标 无线 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种有源天线系统射频指标的测试方法，其特征在于，采用测试罩对被测有源天线系统的射频指标进行测试，所述方法包括：测试罩单体校准，通过矢量网络分析仪对所述测试罩的各天线射频线进行线缆差损的校准；测试罩环境校准，在单体校准后的所述测试罩内放置天线部件，并固定其与测试探针之间的空间关系，通过移动所述测试探针对所述天线部件的各阵子与所述测试罩之间的近场耦合环境进行校准；其中所述天线部件的阵子结构和组成方式与所述被测有源天线系统天馈部分相同，所述测试探针为一个标准的天线阵子；射频指标测试，将所述被测有源天线系统置于环境校准后的所述测试罩中并固定其对应阵子与所述测试探针之间的空间关系，其测试环境与所述测试罩环境校准后的测试环境相同；根据所述校准得到的校准结果对所述测试环境进行补偿后，通过所述测试探针的射频端口对所述被测有源天线系统进行射频测试，得到所述被测有源天线系统射频端口的射频指标。
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