[发明专利]基于SOBI及FastICA的同频信号相位差测量方法无效
| 申请号： | 201210263999.X | 申请日： | 2012-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN102749514A | 公开（公告）日： | 2012-10-24 |
| 发明（设计）人： | 龚国良;鲁华祥;边昳;陈旭;陈刚;张放;金敏;徐元 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01R25/00 | 分类号： | G01R25/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于SOBI及FastICA的同频信号相位差测量方法，包括如下步骤：步骤1：将被测信号x(n)扩展成3维观测信号矩阵X(n)；步骤2：对观测信号矩阵X(n)运行一次排序的无迭代式SOBI算法，得到分离矩阵W1；步骤3：将W1作为分离矩阵初始值，对观测信号矩阵X(n)运行一次FastICA算法，得到混合矩阵A及源分量矩阵S(n)；步骤4：根据混合矩阵A及源分量矩阵S(n)合成被测信号成分x′(n)；步骤5：比较被测信号x′(n)与标准信号的相位差，完成同频信号相位差测量。本发明提供的基于SOBI及FastICA的同频信号相位差测量方法，以降低对测量样本的要求，提高测量的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 sobi fastica 信号 相位差 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于SOBI及FastICA的同频信号相位差测量方法，包括如下步骤：步骤1：将被测信号x(n)扩展成3维观测信号矩阵X(n)；步骤2：对观测信号矩阵X(n)运行一次排序的无迭代式SOBI算法，得到分离矩阵W1；步骤3：将W1作为分离矩阵初始值，对观测信号矩阵X(n)运行一次FastICA算法，得到混合矩阵A及源分量矩阵S(n)；步骤4：根据混合矩阵A及源分量矩阵S(n)合成被测信号成分x′(n)；步骤5：比较被测信号x′(n)与标准信号的相位差，完成同频信号相位差测量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所，未经中国科学院半导体研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210263999.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：雪蛤活力胶囊的加工方法
- 下一篇：用于中空部件的熔模铸造过程
