[发明专利]小型中阶梯光栅光谱仪的装调方法有效

专利信息
申请号: 201210259605.3 申请日: 2012-07-25
公开(公告)号: CN102809428A 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: 陈少杰;宁春丽;崔继承;巴音贺希格;齐向东;唐玉国 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 王淑秋
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及一种中阶梯光栅光谱仪的装调方法,该方法包括下述步骤:将第一入射针孔安装固定,使第一可见光激光器入射到第一入射针孔;调整准直镜的位置和角度使其工作在最佳状态;消除交叉色散棱镜的滚转误差和俯仰误差;调整聚焦镜的位置和角度,使其工作处于最佳状态;安装并调整中阶梯光栅完成其入射角度的初步装调;完成面阵探测器像面位置的调整与像面滚转误差的调整;完成中阶梯光栅、交叉色散棱镜入射角度的精确调整。本发明所需专业辅助设备少、操作简便、易于应用的精确装调方法,利于实现中阶梯光栅光谱仪的高分辨率、宽谱段范围、全谱瞬态直读的光谱分析。
搜索关键词: 小型 阶梯 光栅 光谱仪 方法
【主权项】:
一种中阶梯光栅光谱仪的装调方法,其特征在于包括下述步骤:步骤一:将第一入射针孔(4)安装固定,第一聚光镜(15)放置于第一入射针孔(4)前,第一入射针孔(4)作为整个光学系统的坐标原点;然后将第一可见光激光器(1)作为光源,使第一可见光激光器(1)出射的光束无俯仰、无倾斜地经过第一聚光镜(15)后入射到第一入射针孔(4);步骤二:在第一聚光镜(15)与入射针孔(4)之间放置第一半反半透板(2),在第一半反半透板(2)反射光路上与第一入射针孔(4)对称的位置放置第一显微镜(3);将准直镜(5)放置在第一入射针孔(4)的出射光路上,并调整准直镜(5)的位置使第一入射针孔(4)位于准直镜(5)的焦点处;在中阶梯光栅(7)位置先安装第一平面反射镜(6),使第一平面反射镜(6)与准直镜(5)出臂垂直,固定第一平面反射镜(6);调整准直镜(5)的角度,当在第一显微镜(3)视场中看到反射光从第一入射针孔(4)射出时,固定准直镜(5);步骤三:利用水平仪消除交叉色散棱镜(8)的滚转误差;利用高度尺测试由第一平面反射镜(6)反射并入射到交叉色散棱镜(8)的光线高度,利用高度尺测试交叉色散棱镜(8)折射后的出射光线,调整交叉色散棱镜(8),使出射光线与入射光线在同一水平面上;步骤四:调整聚焦镜(10)的位置,使像面位于聚焦镜(10)的焦平面上,在像面中心安装第二入射针孔(11);然后将第二聚光镜(16)、第二可见光激光器(14)放置于第二入射针孔(11)后,使第二可见光激光器(14)出射的光束经过第二聚光镜(16)后无俯仰、无倾斜地入射到第二入射针孔(11);在第二聚光镜(16)与第二入射针孔(11)之间放置第二半反半透板(12),在第二半反半透板(12)反射光路上与第二入射针孔(11)对称的位置放置第二显微镜(13);在交叉色散棱镜(8)方向放置第二平面反射镜(9),使第二 平面反射镜(9)与聚焦镜(10)的出臂垂直,固定第二平面反射镜(9);调整聚焦镜(10)的角度,当在第二显微镜(13)视场中看到反射光从第二入射针孔(11)射出时,固定聚焦镜(10);步骤五:将第一半反半透板(2)、第一显微镜(3)、第一平面反射镜(6)、第二入射针孔(11)、第二半反半透板(12)、第二显微镜(13)、第二聚光镜(16)、第二可见光激光器(14)和第二平面反射镜(9)移除光学系统;将中阶梯光栅(7)安装至设计位置,调整中阶梯光栅(7)使其光栅面与光学系统坐标原点所在的水平面垂直;根据光栅衍射角方向转动中阶梯光栅(7),直至找到最亮的光斑并使该光斑入射至交叉色散棱镜(8);步骤六:将面阵探测器放置于像面位置,并完成面阵探测器像面位置的调整与像面滚转误差的调整;步骤七:将第一可见光激光器(1)移除光学系统,将汞灯放置在第一可见光激光器(1)位置处作为光源,此时像面呈现各波长的二维光谱分布图像;根据谱图还原算法,建立各波长谱线与像面位置的对应关系,该对应关系作为中阶梯光栅光谱仪标定的谱图模型;将与各特征波长对应的滤光片依次放置在汞灯与第一聚光镜(15)之间,在像面内识别出汞灯的各特征波长谱线;分别调整交叉色散棱镜(8)的入射角度与中阶梯光栅(7的入射角度,使各特征波长谱线的成像位置与所建立的谱图模型一致;将汞灯移除光学系统,完成中阶梯光栅光谱仪的的装调。
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