[发明专利]一种叶片全尺寸快速检测方法与设备

摘要

一种叶片全尺寸快速检测的方法与设备，旨在克服现有技术中的叶片测量效率低、获得的信息量不足等缺点，提供一种叶片全尺寸快速检测的方法，主要包括以下步骤：建立叶片支架的原始模型及基础坐标系；将被测叶片安装在叶片支架上；对叶片支架和叶片进行测量，将测量数据载入到原始模型中，完成单次测量；测量结果在基础坐标系中拼合；判断结果是否完整，是则优化测量结果，否则返回单次测量。还提供一种叶片全尺寸快速检测的设备，包括叶片支架、两轴转台，叶片支架包括框式标志点支架和叶片夹具，框式标志点支架和叶片夹具分别和两轴转台固定连接。本发明提高了叶片的测量效率和精度，适用于叶片制造工程中的检测和制造完成后全尺寸测量的环境。

主权项

一种叶片全尺寸快速检测的方法，基于三维光学测量系统和面结构光投影轮廓术对叶片进行检测，其特征在于，检测方法包括以下步骤：A．建立与测量系统光学三维扫描测量头相对位置可调的叶片支架，在叶片支架上设置标志点，基于摄影测量原理和光束平差优化方法获得标志点坐标；B．将步骤A中获得到的标志点坐标输入到三维测量软件，在计算机上建立叶片支架正反面的原始模型及基础坐标系；C．将被测叶片安装在叶片支架上；D．光学三维扫描测量头对叶片支架和叶片一起进行测量，计算机通过识别叶片支架的标志点特征将测量得到的标志点坐标和步骤B所述的标志点坐标对齐，将测量数据载入到步骤B所述的原始模型中，完成单次测量；E．计算机将步骤D的测量结果在步骤B建立的基础坐标系中拼合；F．计算机判断步骤E的拼合结果是否为完整的叶片型面数据；G．如果完整，则优化测量结果，测量结束；如果不完整，则调整叶片支架的位置，返回步骤D。