[发明专利]一种基于光学显微镜的石墨烯质量检测方法无效
| 申请号： | 201210241873.2 | 申请日： | 2012-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN102749291A | 公开（公告）日： | 2012-10-24 |
| 发明（设计）人： | 郭雪峰;贾传成;江蛟龙 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 关畅 |
| 地址： | 100871 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测石墨烯生长质量的方法。所述检测方法包括下述步骤：1)对生长有石墨烯的Cu基底进行处理，使其表面未被石墨烯覆盖的区域发生颜色变化；2)调整光学显微镜的放大倍数或选用适当倍数的光学放大镜，直接在步骤1)处理后的Cu基底上观察石墨烯；3)根据步骤2)的实验结果确定石墨烯的生长情况，检测石墨烯生长质量，并为快速摸清石墨烯的生长工艺提供指导。本发明可利用光学显微镜或放大镜直接在生长基底上对石墨烯进行检测。该方法较为廉价、简便、快速，并可以从大的视野范围了解石墨烯的整体生长情况，对科研和实际生产中石墨烯的质量检测和生长工艺摸索有较大的意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光学 显微镜 石墨 质量 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种检测石墨烯生长质量的方法，包括下述步骤：1)对生长有石墨烯的Cu基底进行处理，使其表面未被石墨烯覆盖的区域发生颜色变化；2)采用光学显微镜或者光学放大镜直接在步骤1)处理后的Cu基底上观察石墨烯；3)根据步骤2)的观察结果确定石墨烯的生长质量。
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