[发明专利]基于四分量光学物理模型的叶面积指数反演方法有效

专利信息
申请号: 201210215468.3 申请日: 2012-06-27
公开(公告)号: CN102706293A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 王强;刘丹丹;张玉娟;庞勇;李增元;陈尔学;谭炳香 申请(专利权)人: 黑龙江工程学院
主分类号: G01B11/28 分类号: G01B11/28
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 张宏威
地址: 150050 黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 基于四分量光学物理模型的叶面积指数反演方法,涉及叶面积指数反演方法,它为了解决现有二分量物理模型未能准确描述遥感图像植被覆盖像元的真实组成而导致物理模型模拟结果不准确的问题,它包括具体步骤如下:所述四分量光学物理模型为:步骤一、由遥感图像成像条件与森林类型特点确定四分量光学物理模型中的输入参数;步骤二、设L值按0.1步长递增,根据所述L值及其对应的R4建立查找表,由此建立叶面积指数与植被冠层反射率数据一一对应关系;步骤三、采用均方根误差优化技术游历查找表,使均方根误差最小时所对应的叶面积指数即为最优叶面积指数,并将该最优叶面积指数作为反演结果。适用于准确地描述遥感图像植被覆盖。
搜索关键词: 基于 分量 光学 物理 模型 叶面积 指数 反演 方法
【主权项】:
1.基于四分量光学物理模型的叶面积指数反演方法,其特征是,它包括具体步骤如下:所述四分量光学物理模型为:R4=R,tK-10(eKLh-eKLheαLh)Ldh+R,υK-10eKLheαLhLdh]]>+Rse-αLe-KL+Rsz(e-KL-e-KLe-αL)---(2)]]>其中,α、K均为消光系数:K=(2/π)L[(βv-π/2)cos θf+sinβvtan θvsin θf ],α=(2/π)L[(βs-π/2)cos θf+sinβstan θvsin θf],R4为四分量光学物理模型模拟的植被冠层反射率,R∞,υ为植被光照面反射率,R∞,υt为植被阴影面反射率,Rsz为土壤阴影面反射率,Rs为土壤光照面反射率,θv表示视线天顶角,θf表示叶子法线天顶角,θs为太阳天顶角,L为叶面积指数,h为相对光学高度,h的取值范围从-1到0;βv=arccos(-cotθvcot θf),βs=arccos(-cotθscot θf);步骤一、根据待处理的遥感图像数据的遥感图像成像条件与森林类型特点确定四分量光学物理模型中的输入参数:R∞,υ、R∞,υt、Rsz和Rs均为实地测量获得,θv、θf、θs、α和K均由遥感图像成像条件确定,R4只与L的变化相关;所述遥感图像数据中包括六幅图像信息;为植被-土壤体系所构成的混合像元中光照植被所占比例,为植被-土壤体系所构成的混合像元中阴影植被所占比例,e-αLe-KL为植被-土壤体系所构成的混合像元中光照土壤阴影面所占比例,e-KL-e-KLe-αL为植被-土壤体系所构成的混合像元中土壤光照面所占比例;步骤二、设L值按0.1步长递增,根据每个L值通过四分量光学物理模型模拟对应的得到一个R4的值,根据所述L值及其对应的R4建立查找表,所述查找表由四分量光学物理模型模拟的六幅不同波段图像的植被冠层反射率,叶面积指数构成,由此建立叶面积指数与植被冠层反射率数据一一对应关系;步骤三、采用均方根误差优化技术游历查找表,使均方根误差最小时所对应的叶面积指数即为最优叶面积指数,并将该最优叶面积指数作为反演结果。
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