[发明专利]一种天线覆盖性能评估方法及系统

摘要

本发明提供一种天线覆盖性能评估方法及系统，该方法包括获取与目标评估天线有关的测试采样点的扫频数据；根据所述扫频数据将所述测试采样点映射到天线评估坐标系中；获取所述天线评估坐标系中的采样统计单位，其中，所述采样统计单位中包含一个或多个所述测试采样点；获取所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强；根据所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强，对所述目标评估天线的预定天线覆盖性能参数进行评估。本发明在不影响现网运行的基础上，能够准确、快捷地对天线的覆盖性能进行评估。

主权项

一种天线覆盖性能评估方法，其特征在于，包括：获取与目标评估天线有关的测试采样点的扫频数据；将所述扫频数据中的测试采样点的经纬度信息映射成天线评估坐标系中的一天线评估坐标；其中，所述天线评估坐标中包含所述测试采样点与所述目标评估天线的球面距离，以及所述测试采样点与所述目标评估天线的连线顺时针偏离所述目标评估天线的方向角的角度；所述天线评估坐标系是以目标评估天线为坐标原点的球面坐标系；获取所述天线评估坐标系中的采样统计单位，其中，所述采样统计单位中包含一个或多个所述测试采样点；获取所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强；根据所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强，对所述目标评估天线的预定天线覆盖性能参数进行评估。