[发明专利]光强分布的测量方法有效
| 申请号： | 201210192064.7 | 申请日： | 2012-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN103487142A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 姜开利;朱钧;冯辰;范守善 | 申请（专利权）人： | 清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/58 | 分类号： | G01J1/58 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种光强分布的测量方法，包括以下步骤：提供一碳纳米管阵列，该碳纳米管阵列悬空设置于一惰性环境或真空环境中，所述碳纳米管阵列具有相对的第一表面和第二表面；用待测光源照射所述碳纳米管阵列的第一表面，使该碳纳米管阵列辐射出光；利用成像元件对碳纳米管阵列所辐射的光成像，读出待测光源的光强分布。 | ||
| 搜索关键词： | 分布 测量方法 | ||
【主权项】：
一种光强分布的测量方法，包括以下步骤：提供一碳纳米管阵列，该碳纳米管阵列悬空设置于一惰性环境或真空环境中，所述碳纳米管阵列具有相对的第一表面和第二表面；用待测光源照射所述碳纳米管阵列的第一表面，使该碳纳米管阵列辐射出光；以及利用成像元件对碳纳米管阵列所辐射的光成像，读出待测光源的光强分布。
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