[发明专利]一种颗粒不圆度的测量方法及系统无效
| 申请号： | 201210184282.6 | 申请日： | 2012-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN102692365A | 公开（公告）日： | 2012-09-26 |
| 发明（设计）人： | 赵宏生;刘小雪;张凯红;李自强;唐春和 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种颗粒不圆度的测量方法及系统，涉及不圆度测量技术领域，所述方法包括：S1：获取待测颗粒的X射线干板照片；S2：利用所述X射线干板照片获取所述待测颗粒的图像；S3：识别所述图像上所述待测颗粒的边界，并利用所述边界获取所述待测颗粒上预设方向的直径；S4：选择步骤S3中获取直径的最大值和最小值，并利用所述最大值和最小值计算所述待测颗粒的不圆度。本发明通过识别待测颗粒的边界，并利用边界获取预设方向的直径，再计算所述待测颗粒的不圆度，避免了引入人为误差，提高了对颗粒不圆度的测量精度，另外，本发明的测量方法的图像能够保存，便于重复测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 不圆度 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
一种颗粒不圆度的测量方法，其特征在于，所述方法包括：S1：获取待测颗粒的X射线干板照片；S2：利用所述X射线干板照片获取所述待测颗粒的图像；S3：识别所述图像上所述待测颗粒的边界，并利用所述边界获取所述待测颗粒上预设方向的直径；S4：选择步骤S3中获取直径的最大值和最小值，并利用所述最大值和最小值计算所述待测颗粒的不圆度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210184282.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
