[发明专利]截面形状测量方法有效

专利信息
申请号: 201210167731.6 申请日: 2012-05-25
公开(公告)号: CN102798368B 公开(公告)日: 2016-12-14
发明(设计)人: 道胁宏和 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 代理人: 刘新宇,张会华
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供一种截面形状测量方法,该方法是使用接触式的探头(17)测量工件(30)的多个测量位置(S1、S2、……)上的截面形状(F1、F2、……)的截面形状测量方法,当沿经过上述测量位置(S1、S2、……)并且绕工件(30)一周的路径移动探头(17)时,使探头(17)移动如下距离,即在作为测量对象物的一周的量的测量区间(En)上增加了比该测量区间长出了作为规定的重复区间的加速区间(Ea)和减速区间(Ed)的距离,并且,作为使探头(17)向下一个测量位置移动时的转移区间(Em),其使探头(17)的移动方向相对于与截面形状相邻相互接邻的连续方向(L)倾斜而抵消重复区间的量。
搜索关键词: 截面 形状 测量方法
【主权项】:
一种截面形状测量方法,该方法是使用接触式的探头,在测量对象物的多个测量位置上测量上述测量对象物的截面形状的截面形状测量方法,其特征在于,当沿其中一个上述测量位置中的绕上述测量对象物一周的路径移动上述探头时,使上述探头移动比上述测量对象物的一周的量长出了规定的重复区间的距离,并且当使上述探头向下一个上述测量位置移动时,使上述探头的移动方向相对于上述截面形状相互接邻的方向倾斜而抵消上述重复区间的量。
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