[发明专利]干涉光场成像高光谱全偏振探测装置有效

专利信息
申请号: 201210157888.0 申请日: 2012-05-18
公开(公告)号: CN102680101A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 李建欣;朱日宏;沈华;郭仁慧;马骏;陈磊;何勇;高志山;王青;孟鑫;姚良涛;周伟;崔艳军;王小锋 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01J3/02
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱显国
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种干涉光场成像高光谱全偏振探测装置,包括顺序配置的前置光学望远系统、横向剪切干涉系统、光场成像系统、面阵探测器和信号处理系统,被探测目标光线依次通过所述前置光学望远系统、横向剪切干涉系统、光场成像系统,到达面阵探测器,信号处理系统从面阵探测器提取被探测目标的二维空间图像、高光谱信息和全Stokes偏振分量。利用本探测装置,单次测量便可得到目标二维空间光强信息、目标各点全Stokes偏振分量、目标各点高分辨率的光谱信息,且结构简单。
搜索关键词: 干涉 成像 光谱 偏振 探测 装置
【主权项】:
一种干涉光场成像高光谱全偏振探测装置,其特征在于:包括顺序配置的前置光学望远系统(1)、横向剪切干涉系统(2)、光场成像系统(3)、面阵探测器(4)和信号处理系统(5),目标光依次通过所述前置光学望远系统(1)、横向剪切干涉系统(2)、光场成像系统(3),到达面阵探测器(4),信号处理系统(5)从面阵探测器(4)获取带有偏振信息的干涉图像,通过处理得到被探测目标的二维空间图像、高光谱信息和全Stokes偏振分量。
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