[发明专利]三维形貌痕迹比对测量仪无效

专利信息
申请号: 201210116597.7 申请日: 2012-04-20
公开(公告)号: CN102620684A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 严继华;路振涛;孟凡忠;梁玉清 申请(专利权)人: 安徽国盾三维高科技有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 代理人: 杨晋弘
地址: 233000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种物体表面形貌重建的非接触式测量装置,特别是涉及刑侦证据如枪弹、工具痕迹鉴识的三维形貌痕迹比对测量仪,包括基座(1)、立柱(2)、云台(5)、显微摄像机(3)和显微投影仪(4)。本发明的优点是通过对观测样本进行非接触式测量,视场可变,分辨率可调,采用电动、手动相结合的多维调焦云台及多种夹具,以适用于多种检材夹持和测量姿态调整的需要,其结构合理、性能稳定、操作简便。
搜索关键词: 三维 形貌 痕迹 测量仪
【主权项】:
一种三维形貌痕迹比对测量仪,其特征在于包括: a、基座(1);b、立柱(2),它设置于基座上平面,立柱内设有快速升降装置(2a),快速升降装置(2a)上连接微调升降装置(2b);c、显微摄像机(3),它通过摄像机支架(3a)与微调升降装置(2b)联接;d、投影仪(4),它通过五维调节装置(7)连接于摄像机支架(3a)上;e、云台(5),设置在基座的上平面,云台(5)包括二维移动台(501),二维移动台(501)上面连接一个横向角位台(502),横向角位台(502)上面连接一个纵向角位台(503),纵向角位台(503)上面连接一个旋转台(504),旋转台(504)上连有工件夹具(6)。
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