[发明专利]一种等离子显示器用玻璃基板检测系统及方法无效
| 申请号： | 201210108885.8 | 申请日： | 2012-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN102636460A | 公开（公告）日： | 2012-08-15 |
| 发明（设计）人： | 赵之明 | 申请（专利权）人： | 安徽鑫昊等离子显示器件有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 逯长明 |
| 地址： | 230011 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明所提供的等离子显示器用玻璃基板检测系统包括：发射装置，所述发射装置向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；接收装置，所述接收装置用于采集所述待检测面反射的检测信号；处理装置，所述处理装置根据所述接收装置采集的反射检测信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。由于所述玻璃基板有锡面和无锡面对检测信号的反射率不同，所以可以根据采集的检测信号的强度区分有锡面和无锡面，从而区分出所述玻璃基板的有锡面和无锡面。因此，所述检测系统可以简单快速的检测所述玻璃基板，区分其有锡面和无锡面，避免了由于玻璃基板有锡面和无锡面放置错误导致的电极红化现象，从而提高了PDP进行电极烧制时的成品率，降低了生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 等离子 显示 器用 玻璃 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种等离子显示器用玻璃基板检测系统，其特征在于，包括：发射装置，所述发射装置向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；接收装置，所述接收装置用于采集所述待检测面反射的检测信号；处理装置，所述处理装置根据所述接收装置采集的反射后检测信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。
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