[发明专利]一种旋转反射体面天线经纬仪激光靶标测量方法

摘要

本发明公开了一种旋转反射体面天线经纬仪激光靶标测量方法，它主要涉及了卫星通讯、天文探测领域中大型旋转反射体面天线面型的精度测量。将经纬仪A、B(至少一台为激光电子经纬仪)，按一定间距垂直布置于旋转工装上、下平台，在天线直角坐标系下，解算天线面型某一点到经纬仪A和经纬仪B的天顶角度，按解算角度将激光点投射到天线面板上形成靶标，用另一台经纬仪观测出靶标天顶角度值，计算各点角度实测值与解算值的误差值，之后计算各点轴向偏差值最终得出天线面的均方根误差。本发明提高了效率，减小了误差，采用了成熟的测量设备代替专门磨制的棱镜或者钢带尺，降低了成本提高了效率和适用性。

主权项

一种旋转反射体面天线经纬仪激光靶标测量方法，是对旋转反射体面天线的面型精度进行测量的方法，其特征在于包括以下步骤：(1)将反射体朝天放置；(2)安装旋转工装，调整旋转工装的旋转轴线与反射体旋转轴线重合，调整反射体使旋转工装的旋转轴线铅垂；(3)将经纬仪A和经纬仪B采用自上而下的顺序依次安装在旋转工装上，并精确对中和整平；(4)在天线直角坐标系下，取天线面型上某一点Pi(xi，zi)解算经纬仪A和经纬仪B的天顶角度ai和bi：Hb＜zi＜Ha+Hb时有公式：ai＝180‑arctan[xi/(Ha+Hb‑zi)]bi＝arctan[xi/(zi‑Ha)]zi＜Hb时有公式：ai＝180‑arctan[xi/(Ha+Hb‑zi)]bi＝180‑arctan[xi/(Hb‑zi)]Ha+Hb＜zi时有公式：ai＝arctan[xi/(zi‑Ha‑Hb)]bi＝arctan[xi/(zi‑Hb)]其中，xi为点Pi的x轴向坐标值；zi为点Pi的z轴向坐标值；Ha为经纬仪A到经纬仪B的距离；Hb为经纬仪B到天线直角坐标系原点的距离；(5)按俯仰角度bi将经纬仪B的激光束投射到天线面上作为靶标，调整经纬仪A瞄准靶标后读出实测俯仰角度ai′并记录；(6)锁定经纬仪A、B方位，旋转工装使其整体旋转至下一点，重复步骤(5)动作读出经纬仪A俯仰角度数值，直至第一环读取完毕；调整经纬仪B俯仰角度到第二环，重复上述动作直至读取完毕所有预定点的俯仰角度数值；(7)计算各点俯仰角度实测值与解算值的误差值，之后计算各点轴向偏差值最终得出天线面的均方根误差。