[发明专利]一种LED寿命测试系统及其测试方法有效
申请号: | 201210055631.4 | 申请日: | 2012-03-05 |
公开(公告)号: | CN102590763A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 施朝阳;陈云明;邓恒波 | 申请(专利权)人: | 深圳市迈昂科技有限公司;常州市产品质量监督检验所 |
主分类号: | G01R31/44 | 分类号: | G01R31/44;G01K7/02 |
代理公司: | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人: | 齐永红;郭少晶 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种LED寿命测试系统,包括致冷器、铝基板、冷热双区温度箱和积分球,前者的电致冷板和安装盘固定安装于散热器上,使电致冷板镶嵌于安装盘的开口中;铝基板固定于电致冷板的表面上;冷热双区温度箱包括通过隔热板隔离而成的冷、热箱,隔热板和积分球上均设置有用于安装致冷器的安装孔位,在致冷器分别安装于温度箱和积分球安装孔位上时,散热器分别置于冷箱和积分球外部,而铝基板分别置于热箱和积分球的内部。本发明的致冷器可在不拆卸LED的情况下整体移动,极大地方便了LED寿命试验;另外,通过将铝基板接线焊点的引出线连接到开关切换电路,便可单独点亮每颗LED,从而达到单独测试每一颗LED光色电参数的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 led 寿命 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种LED寿命测试系统,其特征在于:包括利用温度箱进行老化的老化子系统、利用积分球进行光色电测量的测量子系统,以及对老化数据和测量数据进行整合分析的分析子系统;其特征在于:所述LED寿命测试系统还包括致冷器和用于焊接多颗待测LED的铝基板,所述致冷器包括散热器、电致冷板和安装盘;所述电致冷板和安装盘均固定安装于散热器上,所述安装盘的中部具有开口,使电致冷板镶嵌于所述开口中,并使散热器位于面向安装盘底面的一侧;所述铝基板紧贴固定于电致冷板的表面上,并使铝基板用于焊接LED引脚的一面朝上外露;所述铝基板具有多个用于连接LED的安装位,每个安装位的LED正、负极均与铝基板上各安装位一一对应的接线焊点电连接;所述温度箱为冷热双区温度箱,所述冷热双区温度箱包括通过隔热板隔离而成的冷箱和热箱,所述隔热板上设置有至少一个贯穿所述隔热板的用于安装所述致冷器的温度箱安装孔位;所述温度箱安装孔位的结构要求满足:在所述致冷器通过其安装盘固定安装于温度箱安装孔位上时,使所述散热器置于冷箱中,并使电致冷板上的铝基板置于热箱中;所述积分球的表面设置有用于安装所述致冷器的积分球安装孔位,所述积分球安装孔位的结构要求满足:在所述致冷器通过其安装盘固定安装于积分球安装孔位上时,使所述散热器置于积分球外部,并使电致冷板上的铝基板置于积分球的内部;以及,所述老化子系统还包括用于为与铝基板上的各接线焊点相对应的各LED提供独立的老化测试用电流源的老化供电单元;所述测量子系统的测量供电单元包括一测量用电流源和使测量用电流源按序或随机地单独点亮与铝基板上的各接线焊点相对应的每颗LED的开关切换电路,以单独测量与铝基板上的各接线焊点相对应的每颗LED的光色电参数。
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