[发明专利]一种无间隙多探头阵列扫描超声波探伤设备无效

专利信息
申请号: 201210047541.0 申请日: 2012-02-28
公开(公告)号: CN102590339A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 廉国选 申请(专利权)人: 上海斌瑞检测技术服务有限公司
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/26;G01N29/24
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 周荣芳
地址: 200436 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种无间隙多探头阵列扫描超声波探伤设备,包含:若干个单列排列的探头,该每个探头包含若干个单列排列的子探头,该若干个探头包含的所有子探头单列排列;主控制器,该主控制器分别与各个子探头通过信号线相连;该主控制器依次激发不同的子探头组合,使扫描具有一定的相位差,实现相控阵列扫描。本发明只采用单排探头,能够一次扫描完成检测区域的全覆盖,可显著提高扫描检测的速度或减少双排探头的技术复杂度。
搜索关键词: 一种 间隙 探头 阵列 扫描 超声波 探伤 设备
【主权项】:
一种无间隙多探头阵列扫描超声波探伤设备,其特征在于,包含:若干个单列排列的探头,所述的每个探头包含若干个单列排列的子探头,所述的若干个探头包含的所有子探头单列排列;主控制器,所述的主控制器分别与各个子探头通过信号线相连;所述的主控制器依次激发不同的子探头组合,使扫描具有一定的相位差,实现相控阵列扫描。
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