[发明专利]光学编码器有效

专利信息
申请号: 201210043088.6 申请日: 2012-02-23
公开(公告)号: CN102650536A 公开(公告)日: 2012-08-29
发明(设计)人: 堀口春彦;名仓千裕 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G01D5/347 分类号: G01D5/347
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李颖
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及光学编码器。所述光学编码器包括:光源;被光源照射并在一个轨迹中具有细节距图案和粗节距图案的标尺;检测从光源发射的来自标尺的透射光或反射光的光电检测器阵列;包含从光电检测器阵列产生位置检测信号的第一初级放大器单元的信号处理单元;以及使用来自第一初级放大器单元的输出信号来控制光源的光量变化的控制单元。所述光学编码器能够以高分辨率检测模式和低分辨率检测模式操作,所述高分辨率检测模式以第一节距形成光电检测器阵列来检测细节距图案,所述低分辨率检测模式以第二节距形成光电检测器阵列来检测粗节距图案。
搜索关键词: 光学 编码器
【主权项】:
一种光学编码器,包括:光源;标尺,被配置为被光源照射,并且在一个轨迹中沿测量方向具有细节距图案和粗节距图案;光电检测器阵列,被配置为既被用于细节距图案又被用于粗节距图案并且检测来自标尺的透射光或反射光,所述透射光和所述反射光是从所述光源发射的;信号处理单元,包含被配置为从所述光电检测器阵列产生位置检测信号的第一初级放大器单元;以及控制单元,被配置为使用来自第一初级放大器单元的输出信号来控制光源的光量变化,其中,所述光学编码器能够以高分辨率检测模式和低分辨率检测模式操作,所述高分辨率检测模式被配置为沿测量方向以第一节距形成光电检测器阵列以便检测细节距图案,所述低分辨率检测模式被配置为沿测量方向以第二节距形成光电检测器阵列以便检测粗节距图案,所述光学编码器包含第二初级放大器单元,其中,当在高分辨率检测模式和低分辨率检测模式中的至少一个中存在不被用于检测位置的未使用的光电检测器时,向所述第二初级放大器单元输入未使用的光电检测器的输出,并且,当存在未使用的光电检测器时,所述控制单元基于来自第一初级放大器单元和第二初级放大器单元的输出信号的和信号而控制光源的光量变化。
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