[发明专利]甚长波InAs/GaSb二类超晶格红外探测器材料的制备方法无效
申请号: | 201210036863.5 | 申请日: | 2012-02-17 |
公开(公告)号: | CN102544229A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 卫炀;马文全;张艳华;曹玉莲 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种制备甚长波InAs/GaSb二类超晶格红外探测器材料的方法,该方法是在半绝缘GaSb衬底上依次生长P型掺杂的GaSb缓冲层、P型掺杂的中波InAs/GaSb二类超晶格层、非掺杂的甚长波InAs/GaSb二类超晶格层、N型掺杂的中波InAs/GaSb二类超晶格层以及N型掺杂的InAs上接触层,得到甚长波InAs/GaSb二类超晶格红外探测器材料。利用本发明,由于在界面设计中增加了精心设计的“Sb-soak”和“生长中断”,所以超晶格材料质量进一步得到提高。 | ||
搜索关键词: | 长波 inas gasb 二类超 晶格 红外探测器 材料 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种制备甚长波InAs/GaSb二类超晶格红外探测器材料的方法,其特征在于,该方法是在半绝缘GaSb衬底上依次生长P型掺杂的GaSb缓冲层、P型掺杂的中波InAs/GaSb二类超晶格层、非掺杂的甚长波InAs/GaSb二类超晶格层、N型掺杂的中波InAs/GaSb二类超晶格层以及N型掺杂的InAs上接触层,得到甚长波InAs/GaSb二类超晶格红外探测器材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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