[发明专利]基于双波长激光管相位测量的校准方法及其测距装置有效

专利信息
申请号: 201210029344.6 申请日: 2012-02-10
公开(公告)号: CN102540170A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 杜鑫;乔佰文;查晓怡 申请(专利权)人: 江苏徕兹光电科技有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01S17/08;G01J9/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 213012 江苏省常州市钟楼*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明适用于相位式光电测距领域,提供了一种基于双波长激光管相位测量的校准方法及其测距装置,所述方法包括:步骤1为外光路的形成,步骤2为内光路的形成以及步骤3:将步骤1和步骤2工作时将先后切换光波发射装置(1、2)第一光波和第二光波,使所述接收装置(7)将先后接收到的内、外两路所述光波进行相位比较,输出消除基底参考的相位信号。本发明实现了相位补偿和校准的目的,避免了环境变化在电路中引入不确定的相位噪音,提高了激光测距的测量精度,减少了环境因素对测距误差的影响,降低了系统的成本,加强了相位式光电测距系统在各行业的应用。
搜索关键词: 基于 波长 激光管 相位 测量 校准 方法 及其 测距 装置
【主权项】:
一种基于双波长激光管相位测量的校准方法,其特征在于,所述方法包括步骤:步骤1为外光路的形成:将系统光波发射装置(1、2)发射第一光波通过第一滤光片(3)至被测目标,所述光波被被测目标反射折回后通过光学装置(5、6)聚焦被一接收装置接收(7)并作为系统测量的外光路;所述光波在通过第一滤光片(3)的同时,部分光波能量被该滤光片(3)或其他反射片向接收装置反射并被第二滤光片(4)滤除;步骤2为内光路的形成:将系统光波发射装置(1、2)发射的第二光波为第一滤光片(3)滤除并被该滤光片(3)反射或其他反射片向接收装置反射并通过第二滤光片(4)直接为所述接收装置(7)接收,其中通过第二滤光片(4)光波将作为系统相位测量基底参考的内光路;步骤3:将步骤1和步骤2工作时将先后切换光波发射装置(1、2)第一光波和第二光波,使所述接收装置(7)将先后接收到的内、外两路所述光波进行相位比较,输出消除基底参考的相位信号。
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